AFM-O光学原子力多功能二合一显微镜
AFM-O光学原子力多功能二合一显微镜
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产品概述

出自: https://www.instrubuy.com/1302-1302.html

AFM-O光学原子力显微镜一体机产品特点

  • 光学显微镜和原子力显微镜一体式设计,光电控制一体化;
  • 同时具备光学和原子力显微镜成像功能,两者可同时扫描成像,互不影响;
  • 同时具备光学二维测量和原子力显微镜三维测量功能;
  • 采用了垂直光路设计,配合气液两用型探针架可同时在空气或液体中使用;
  • 利用了高倍光学定位系统,实现探针和样品扫描区域精确定位;
  • 简易的激光光斑调节方式,可通过光学CCD窗口实时观测及调节光斑;
  • 单轴驱动样品自动垂直接近探针,准确定位扫描区域,使针尖垂直于样品扫描;
  • 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式,保护探针及样品;
  • 配备气动式减震台,抗干扰能力强,不影响仪器使用操作;
  • 集成扫描器硬件非线性校正用户编辑器,纳米表征和测量精度优于98%。

应用范围

AFM-T教学型原子力显微镜

技术参数

原子力工作模式接触、轻敲、F-Z力曲线测量、RMS-Z曲线测量、摩擦力/侧向力、振幅/相位、磁力和静电力,可选配液体模式
原子力扫描范围XY向20um,Z向2um(可选配XY向50um,Z向5um)
样品尺寸Φ≤90mm,H≤20mm
扫描分辨率XY向0.2nm,Z向0.05nm
样品移动范围0~20mm
光学物镜5X,10X,20X,50X平场复消色差
光学目镜10X
CCD传感器300万像素
显示屏11.6寸平板显示器,带测量功能
光学调焦方式电动调焦
扫描速率扫描速率0.6Hz~4.34Hz,扫描角度0~360°
扫描控制XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A
数据采样14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样
反馈方式DSP数字反馈
反馈采样速率64.0KHz
通信接口USB2.0/3.0
运行环境WindowsXP/7/8/10操作系统