产品概述
出自: https://www.bjcossim.com/p/spm/1984
AFM-T教学型原子力显微镜主要特点
- 小型化及可拆卸化设计,方便携带及教学;
- 激光检测头和样品扫描台集成一体,稳定可靠;
- 精密激光及探针定位装置,更换探针及调节光斑简单方便;
- 单轴驱动样品自动垂直接近探针,准确定位扫描区域,使针尖垂直于样品扫描;
- 马达控制加压电陶瓷自动探测的智能进针方式,保护探针及样品;
- 4X物镜光学定位,无需调焦,实时观测与定位探针样品扫描区域;
- 弹簧悬挂式防震方式,简单实用,防震效果好;
- 集成扫描器硬件非线性校正用户编辑器,纳米表征和测量精度优于98%。
AFM-T教学型原子力显微镜应用范围
技术参数
基本工作模式 | 轻敲模式、RMS-Z曲线测量 |
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选配工作模式 | 接触模式、F-Z力曲线测量、摩擦力/侧向力、振幅/相位、磁力和静电力 |
样品尺寸 | Φ≤90mm,H≤20mm |
扫描范围 | XY向20um,Z向2um |
扫描分辨率 | XY向0.2nm,Z向0.05nm |
样品移动范围 | 0~13mm |
光学参数 | 光学放大倍数4X,光学分辨率2.5um |
扫描参数 | 扫描速率0.6Hz~4.34Hz,扫描角度0~360° |
扫描控制 | XY采用18-bit D/A,Z采用16-bit D/A |
数据采样 | 14-bit A/D、双16-bit A/D多路同步采样 |
反馈方式 | DSP数字反馈 |
反馈采样速率 | 64.0KHz |
通信接口 | USB2.0/3.0 |
运行环境 | WindowsXP/7/8/10操作系统 |